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〈941〉 Caracterización de Sólidos Cristalinos y Parcialmente Cristalinos por Difracción de Rayos X sobre Polvo (DRXP)

INTRODUCCIÓN

Toda fase cristalina de una sustancia determinada produce un patrón característico de difracción de rayos X. Los patrones de difracción (o difractogramas) se pueden obtener a partir de un polvo cristalino orientado aleatoriamente, compuesto de cristalitos (regiones cristalinas dentro de una partícula) o fragmentos de cristal de tamaño finito. En esencia, de un patrón de difracción de un polvo se pueden obtener tres tipos de información: la posición angular de las líneas de difracción (dependiendo de la geometría y el tamaño de la celda unidad), las intensidades de las líneas de difracción (dependiendo principalmente del tipo y arreglo de los átomos y de la orientación preferida dentro de la muestra) y los perfiles de las líneas de difracción (dependiendo de la resolución instrumental, el tamaño de los cristalitos, la tensión y el espesor de la muestra).

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