INTRODUCCIÓN

La espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF, por sus siglas en inglés) es un método instrumental basado en la medición de fotones de rayos X característicos originados por excitación de electrones de las capas internas atómicas mediante una fuente primaria de rayos X. El método de XRF se puede usar para análisis cualitativos y cuantitativos de líquidos, polvos y materiales sólidos. Los rayos X producidos por un tubo de rayos X incluyen líneas características que corresponden al material del ánodo y un continuo conocido como radiación de frenado (bremsstrahlung). Se pueden usar ambos tipos de rayos X para excitar átomos e inducir así los rayos X. El instrumental para XRF se puede dividir en dos categorías: Fluorescencia de Rayos X por Dispersión de Longitud de Onda (WDXRF, por sus siglas en inglés) y Fluorescencia de Rayos X por Dispersión de Energía (EDXRF, por sus siglas en inglés). El factor principal que distingue a estas tecnologías es el método usado para separar el espectro emitido por los átomos en la muestra. La energía de los fotones de rayos X es característica para una transición electrónica dada en un átomo y es de carácter cualitativo. La intensidad de la radiación emitida indica el número de átomos excitados en la muestra y constituye el carácter cuantitativo del método.